隨著Omni的出現(xiàn)，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性，實(shí)現(xiàn)在同一臺(tái)粒度分析儀中，既可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號(hào)，又可以有效地提高了測(cè)量濃度上限，zui高可達(dá)40%wt；硬件PALS技術(shù)（與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍）的應(yīng)用，*解決了長期以來無法對(duì)諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測(cè)量條件下（電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統(tǒng)方法沒有足夠的分辨率進(jìn)行測(cè)量）的樣品進(jìn)行分析的難題。

 

納米顆粒分析儀使用納米透視Nano-Insight 激光散射模塊，可以通過頂眼超顯微鏡觀測(cè)到液體中的納米粒子。采用不同激光散射顆粒在矩陣中表現(xiàn)為模糊點(diǎn)。模糊點(diǎn)根據(jù)其各自的布朗運(yùn)動(dòng)而移動(dòng)。液體中有不同的布朗運(yùn)動(dòng)粒子。小粒子比大粒子受到相鄰粒子的影響更少。因此，在超顯微圖像中，較大的粒子有大的模糊外觀。 NTA能夠追蹤粒子的相應(yīng)路徑。

 

納米顆粒分析儀納米觀測(cè)模塊

納米觀測(cè)模塊的設(shè)計(jì)，可以使其安裝在超顯微鏡，頂眼納米的底板。可以通過Mishell軟件來控制該模塊。Mishell軟件控制著納米觀測(cè)模塊以及照相機(jī)。根據(jù)應(yīng)用決定在納米觀測(cè)模塊裝備一個(gè)或多個(gè)激光器。激光器以一種特殊的方式排列。左側(cè)圖片上展示的是納米觀測(cè)圖。較小的粒子比較大的粒子移動(dòng)更快。我們用攝像機(jī)同時(shí)跟蹤每個(gè)粒子。